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當前位置：首頁產品中心專用儀器儀表DP-WSP-6半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀

半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀

產品簡介

DP-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測試的理想具。

產品型號：DP-WSP-6
更新時間：2016-10-21
廠商性質：生產廠家
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半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 型號：DP-WSP-6

DP-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測試的理想具。

1、 主要標:

電源：220V交流

可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm

恒流源：電流量程為0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。

數字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV

電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米

輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω

測量度：±0.1。

zui大電阻測量誤差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。

重摻檢測誤差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

測量環境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%

2、操作程序：

  1、連好電源，打開后面板電源開關，電源示燈亮，表示待機畢。

  2、校準設備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的標準樣塊校準電阻率測試儀

  3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可，

  4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準次設備，

 

3、 針組件;維護及注意事項:

  1、般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔作

  2、維護后的安裝及維護過程中,注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列

2.

其它
 
 
 
商品名稱：透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀
商品型號：DP-TMD型
 

透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀  型號：DP-TMD型

透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀說明：

      DP-TMD型透明度測定儀是我公司為配合《危險化學品涂料產品許可證實施細則》的實施研制出來的產品。該儀器根據GB 1721《清漆、清油及稀釋劑外觀和透明度測定法》制作的。該儀器不需要何標準試劑，使用非常簡單、方便，而且量了化產品透明度的等級，有效地改善了目前此項標的現狀。
 
 透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀主要參數：   
訂購信息
DP-TMD型
波長
可從340-1000nm調節，便于分辨深顏色樣品
測試度
±1%
測試范圍
0.0%～125.0%
校正
自動校正
調零
自動調零
www.51298264.com
北京亞歐德鵬科有限公司

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